Inframet生产的离轴反射式平行光管采用垂直结构,平行光管的焦平面位于反射镜垂直方向的上方。这种类型的平行光管实现了测试系统的简单化结构设计(只需较小、较窄的光学平台)。而且,垂直结构的平行光管更为先进之处在于系统用于热像仪的测试时,垂直结构的黑体温度的均匀性要优于使用相同模块的水平结构。
Inframet采用典型的保护铝镀膜作为反射镜的镀膜材料,如果在可见光-近红外波段达到均匀的反射率,则保护铝镀膜可以作为次反射平面镜或者两面反射镜的镀膜材料。如果在远红外波段需要达到非常高的反射率则需要使用保护金作为辅助镜(或者两个反射镜)的材料。我们可以根据您所需口径和焦距精度等提供定制化平行光管,满足您的需求。 IR FPA 传感器 焦平面阵列传感器,为智能穿戴设备提供精细传感器测试。上海光电测试系统作用

FUT靶标为棋盘型靶标,采用大面积、均匀温度的辐射源,经表面加工后在高发射率背景下实现低发射率。FUT靶标尺寸较大,能够完全填充被测融合成像系统的视野。利用热像仪和可见光/近红外成像传感器对FUT靶标进行图像采集,为有效的图像融合提供了必要的数据。FUT靶标是一种均匀加热的靶标,通常不能够进行调节高温度。操作较为简单,插上电源加热十几分钟稳定后就可进行使用。
测试功能:FUT靶标可以用于以下测试:•对准误差(热通道光轴相对于可见光通道光轴的角度)•旋转误差(热通道图像与可见通道图像之间的角度)•热成像通道图像相对于可见成像通道图像的二维空间位移图(与另一通道中的同一像素相比,像素的位移量和位移方向的信息)•热像仪分辨率测试 上海光电测试系统作用光电精确测量,保障医疗器械精确操作。

SAFT是专业用来测量成像距离只有几米的短距热像仪的小型模块化设备。绝大多数的商用热像仪属于这一范畴SAFT不使用折射光管作为投射装置,所以分辨率片到被测成像仪的距离须比较短。所以SAFT一般推荐用来检测上面提到的小型短距,小口径,宽FOV的热像仪。如果需要测试大口径或者比较窄视野的热像仪时,我们也提供额外的折射光管供客户选择。由于SAFT把一系列的分辨率片装在了电动光栅上所以它可以快速地测量热像仪的各种参数。一般SAFT由TCB-2D黑体,一组分辨率片,ARC-500屏蔽装置,PC,抓帧器,TAM软件,还有一些可选模块组成。SAFT可以直接投射不同的分辨率片到被测热像仪上,根据被测热像仪所产生的扭曲图像副本再结合软件或者主观判断我们可以衡量出该被测热像仪的性能,另外热像仪的一些重要参数也都包含在了测量项目中。
DTR短焦热像仪测试系统是传统DT热像仪测试系统的一个特殊版本。这两个系统都是将一系列的标准靶标投影出去,被测热像仪接收成像。DT系统使用了较长焦距和大孔径的离轴反射式光管,而DTR系统则使用较短焦距和小孔径的透射式光管。因此,相同的红外靶标由DTR系统投射后,被测热像仪接收的图像比由DT系统透射出的要更大。从数学上讲,DTR系统可以投射出比典型DT系统空间频率要低几倍的4杆靶图像。
DTR测试系统在测试过程中,被测热像仪的奈奎斯特空间频率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(热像仪的探测器像元尺寸17um,物镜焦距0.68mm),可满足市场上大多数大视场热像仪的测量需求。另外DTR测试系统提供2个不同焦距和视场的光管供选择,可根据被测热像仪的分辨率和视场来选择适用的光管。通常DTR测试系统提供测试长波热像仪的配置,可选配测量中波热像仪。 LS-SAL 短波红外光源,精确测试,引导航天工业新高度。

由于各种原因,生成高分辨率融合图像较为困难,其中一个原因是需要校正不同成像传感器产生的图像的畸变和放大程度的差异,优化图像校正算法需要对所有成像传感器均可见的已知几何形状的特定目标进行研究。Inframet提供支持双通道融合图像的棋盘式FUT靶标,能够发射热辐射(靶标实际上是一个调节均匀温度的大面积辐射源),也能反射可见光/近红外范围内的入射辐射。因此,无论是在中波红外/长波红外范围内工作的热像仪,还是在可见光/近红外范围内工作的夜视仪/相机,都可以看到相同图像。该靶标可用于确定热成像相对于可见光图像的空间位移二维图。光电精确测试,提升造纸行业纸品质量。上海德国进口光电测试系统
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这些黑体的设计基于针对THz范围优化的特殊浇注材料吸收体涂层,大面积均匀发射面板和控制电子元件。MAB黑体具有不同发射器面积,不同温度范围的一系列版本,并针对不同的光谱带进行了优化。MAB黑体的特征在于具有良好的温度分辨率、温度稳定性、温度均匀性、温度不确定性和高发射率。所有这些功能使得MAB黑体被用作测试/校准太赫兹/亚太赫兹成像仪或其他这种辐射仪系统中的参考源的理想选择。
MAB黑体有一系列的版本。有三个重点参数指标:黑体发射面的大小、光谱带和温度范围。发射面尺寸由黑体代码表示:MAB-XD其中X是发射器的平方近似尺寸,单位为英寸。
通常提供以下型号:MAB-6D,MAB-12D,MAB-16D,MAB-2OD,MAB-24,MAB-50。可以看出,MAB黑体提供大至1000x1000mm的发射器(型号MAB-50D)。MAB黑体可针对不同的光谱范围进行优化:A-从0.1mm到1mm(0.3-3THz);B-从0.5mm到4mm(75GHz-1.5THz);C-从2mm到10mm(30GHz-150GHz);D-从0.5mm到10mm(30GHz-1.5THz);E-从0.5mm到30mm(10GHz-1.5THz);ka-从7.5mm到1.1mm(26.5-40GHz)。 上海光电测试系统作用
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